ディスクドライブテスト

专利摘要:
ディスクドライブテストシステム（１００）は、床面（１０）に実質的に垂直な第一の軸（２０５）を規定する少なくとも一つのロボットアーム（２００）を含む。ロボットアームは、第一の軸の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸から放射状に伸びるように動作し得る。ロボットアームによってサービスされるように多数のラック（３００）がロボットアームの周りに配置される。各ラックは、各々がテストのためにディスクドライブ（５００）を搬送するように構成されたディスクドライブ搬送器（５５０）を受け取るように構成されている多数のテストスロット（３１０）を収容する。転送ステーション（４００）が、ロボットアームによってサービスされるように配置される。転送ステーションは、各々がディスクドライブトート（４５０）を受け取るように構成された多数のトートレセプタクル（４３０）を含む。
公开号:JP2011507146A
申请号:JP2010539675
申请日:2008-12-15
公开日:2011-03-03
发明作者:ウォルター ヴァヘイ、；エドワード ガルシア、；エリック；エル． トゥルーベンバッハ、；エフゲニー ポルヤコヴ、；ブライアン；エス． メロウ、
申请人:テラダイン、 インコーポレイテッド；
IPC主号:G11B5-00

专利说明:

[0001] この開示は、ディスクドライブテストに関する。]
背景技術

[0002] ディスクドライブ製造者は典型的に、一集りの要求を満たしていることについて製造されたディスクドライブをテストする。多数のディスクドライブを直列的にまたは並列的にテストするテスト設備および技術が存在する。製造者は多数のディスクドライブをバッチで同時にテストする傾向がある。ディスクドライブテストシステムは典型的には、テストのためにディスクドライブを受け取る多数のテストスロットを有した一つ以上のラックを含む。]
[0003] ディスクドライブの直ぐ周辺のテスト環境は、緊密に規制される。テスト環境における最小の温度変動は、正確なテスト条件とディスクドライブの安全のために決定的である。より高い容量と、より速い回転速度と、より小さいヘッドクリアランスを有するディスクドライブの最新世代は、振動により敏感である。過大な振動はテスト結果の信頼性と電気的接続の完全性に影響を与えることができる。テスト条件下では、ドライブ自体がサポート構造または隣接するユニットへの固定を通して振動を伝播することができる。この振動の「クロストーク」は、振動の外部ソースと共に、バンプエラー、ヘッドスラップ、および非反復性ランアウト（ＮＲＲＯ）に貢献し、それらはより低いテスト歩留まりと増加した製造コストに結果としてなり得る。]
[0004] 現行のディスクドライブテストシステムは、システム中の過大な振動に貢献しおよび／または大きな設置面積を要求する自動化および構造的サポートシステムを採用する。現行のディスクドライブテストシステムはまた、ディスクドライブをテストのためにテストシステムに個別に供給するのにオペレーターまたはベルトコンベアを使う。]
[0005] 一側面では、ディスクドライブテストシステムは、床面に実質的に垂直な第一の軸を規定する少なくとも一つのロボットアームを含む。ロボットアームは、第一の軸の周りの所定の弧（例えば、３６０°）を通して回転し第一の軸から放射状に伸びるように動作し得る。多数のラックが、ロボットアームによってサービスされるためにロボットアームの周りに配置される。各ラックは多数のテストスロットを収容し、それらは各々テストのためにディスクドライブを搬送するように構成されたディスクドライブ搬送器を受け取るように構成されている。転送ステーションが、ロボットアームによってサービスされるように配置される。転送ステーションは、各々がディスクドライブトートを受け取るように構成された多数のトートレセプタクルを含む。]
[0006] 開示の実装は、以下の特徴の一つ以上を含んでいても良い。いくつかの実施形態では、ロボットアームは、テストスロットの一つのディスクドライブ搬送器と係合するように構成されたマニピュレータを含んでいても良い。ロボットアームは、テストのためにディスクドライブ搬送器中のディスクドライブをテストスロットに搬送するように動作し得る。ロボットアームは実質的に円筒形の作業エンベロープ容積を規定し、ラックと転送ステーションが、ロボットアームによるサービスのために作業エンベロープ容積内に配置される。いくつかの例では、ラックと転送ステーションは、ロボットアームの第一の軸の周りの少なくとも部分的に閉じた多角形に配置されている。ラックは、ロボットアームの第一の軸から等距離に放射状に離れて、または異なる距離で、配置されても良い。]
[0007] いくつかの実装では、転送ステーションは、床面に実質的に垂直に転送ステーションによって規定された縦軸の周りを回転するように動作し得る。転送ステーションは、第一と第二の反対向きのトートレセプタクルを規定する転送ステーションハウジングを含む。いくつかの例では、転送ステーションは、縦軸を規定するステーションハウジングと、縦軸の周りを回転するように回転可能の載置された多数のトート受け取り器を含む。各トート受け取り器は、他とは独立に回転可能であり、第一と第二の反対向きのトートレセプタクルを規定する。いくつかの例では、トート受け取り器は、ステーションベースから実質的に垂直に上向きに伸びているスピンドル上に回転可能に載置されている。]
[0008] ロボットアームは、転送ステーションの受け取られたディスクドライブトートとテストスロットの間でディスクドライブを転送することによって各テストスロットを個別にサービスしても良い。いくつかの実装では、ディスクドライブトートは、各々がディスクドライブを収容するように構成された多数のディスクドライブレセプタクルを規定しているトート本体を含む。各ディスクドライブレセプタクルは、ディスクドライブの非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブの中央部分をサポートするように構成されたディスクドライブサポートを規定する。いくつかの例では、ディスクドライブトートは、多数のコラム空孔を規定しているトート本体と、各コラム空孔中に配置され（例えば、空孔コラムの後壁から離され）、コラム空孔を各々がディスクドライブを受け取るように構成された多数のディスクドライブレセプタクルに分割している、多数の片持ち梁型ディスクドライブサポートと、を含む。各ディスクドライブサポートは、ディスクドライブの非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブの中央部分をサポートするように構成されている。]
[0009] いくつかの実装では、ディスクドライブテストシステムは、テストスロットと通信している少なくとも一つのコンピュータを含む。パワーシステムがディスクドライブテストシステムにパワーを供給し、テストスロット中の受け取られたディスクドライブへのパワーを監視および／または規制するように構成されていても良い。温度制御システムは、テストスロットの上におよび／またはそれを通して空気を循環させるように動作し得る空気移動器（例えば、ファン）を含んでいても良い。振動制御システムはラック振動（例えば、受動的振動制限を介した）を制御する。データインターフェースは各テストスロットと通信しており、テストスロットによって受け取られたディスクドライブ搬送器中のディスクドライブと通信するように構成されている。]
[0010] 各ラックは、少なくとも一つのテストスロットと通信している少なくとも一つの自己テストシステムを含む。自己テストシステムは、クラスターコントローラと、テストスロットに受け取られたディスクドライブと電気通信している接続インターフェース回路と、接続インターフェース回路と電気通信しているブロックインターフェース回路を含む。ブロックインターフェース回路はテストスロットのパワーと温度を制御するように構成されている。接続インターフェース回路とブロックインターフェース回路は、ディスクドライブテストシステムの少なくとも一つの部品の機能性をテストする（例えば、空である間かまたはディスクドライブ搬送器によって保持されたディスクドライブを収容している間にテストスロットの機能性をテストする）ように構成されている。]
[0011] いくつかの実装では、各ラックは、少なくとも一つのテストスロットと通信している少なくとも一つの機能テストシステムを含む。機能テストシステムは、クラスターコントローラと、クラスターコントローラと電気通信している少なくとも一つの機能インターフェース回路と、テストスロットに受け取られたディスクドライブと機能インターフェース回路と電気通信している接続インターフェース回路を含む。機能インターフェース回路はディスクドライブに機能テストルーティンを通信するように構成されている。いくつかの例では、機能テストシステムは、クラスターコントローラと少なくとも一つの機能インターフェース回路の間に電気通信を提供するイーサネット（登録商標）スイッチを含む。]
[0012] ディスクドライブテストシステムは時々、ディスクドライブを搬送している間にロボットアームの案内を補助するようにロボットアーム上に配置された視覚システムを含む。特に、視覚システムは、ディスクドライブ搬送器を安全にテストスロットの一つまたはディスクドライブトート中に挿入するようにディスクドライブ搬送器を保持するロボットアーム上のマニピュレータを案内するのに使われても良い。視覚システムは、ラック、テストスロット、転送ステーション、および／またはディスクドライブトート上の基準マークにロボットアームを揃えることによってロボットアームをカリブレートしても良い。]
[0013] 別の側面では、ディスクドライブポートは、各々がディスクドライブを収容するように構成された多数のディスクドライブレセプタクルを規定しているトート本体を含む。各ディスクドライブレセプタクルは、ディスクドライブの非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブの中央部分をサポートするように構成されたディスクドライブサポートを規定する。]
[0014] 更に別の側面では、ディスクドライブトートは、多数のコラム空孔を規定しているトート本体と、各コラム空孔中に配置され（例えば、コラム空孔の後壁から離され）、コラム空孔を各々がディスクドライブを受け取るように構成された多数のディスクドライブレセプタクルに分割している、多数の片持ち梁型ディスクドライブサポートと、を含む。各ディスクドライブサポートは、ディスクドライブの非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブの中央部分をサポートするように構成されている。]
[0015] 別の側面では、ディスクドライブテストを行う方法は、多数のディスクドライブを、ディスクドライブトートによって規定されたディスクドライブレセプタクル中に装填することと、ディスクドライブトートを、転送ステーションによって規定されたトートレセプタクル中に装填することを含む。方法は、ラック中に収容されたテストスロットからディスクドライブ搬送器を取り出すようにロボットアームを駆動することと、転送ステーションからディスクドライブの一つを取り出し、ディスクドライブ搬送器中でディスクドライブを搬送するようにロボットアームを駆動することを含む。ロボットアームは、床面に実質的に垂直にロボットアームによって規定された第一の軸の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸から放射状に伸びるように動作し得る。方法は、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器をテストスロットに配送するようにロボットアームを駆動することと、受け取られたディスクドライブ搬送器とテストスロットによって収容されたディスクドライブ上で機能性テストを行うことを含む。方法はそれから、テストされたディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器をテストスロットから取り出し、テストされたディスクドライブを転送ステーションに配送し戻すようにロボットアームを駆動することを含む。]
[0016] いくつかの例では、方法は、ディスクドライブ搬送器をテストスロットに預けるようにロボットアームを駆動すること（例えば、ディスクドライブトートのディスクドライブレセプタクル中にテストされたディスクドライブを預けた後で）を含む。いくつかの例では、ディスクドライブ搬送器をテストスロットに配送することは、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器をラック中のテストスロット中に挿入することと、ディスクドライブとラックの間に電気接続を確立することを含む。]
[0017] 方法は、転送ステーション中の受け取られたディスクドライブトートを、サービス位置（例えば、オペレータによってアクセス可能な位置）とロボットアームによってアクセス可能なテスト位置の間で回転することを含んでいても良い。]
[0018] いくつかの実装では、ディスクドライブをディスクドライブトート中に装填することは、ディスクドライブトートのトート本体によって規定されたディスクドライブレセプタクル中のディスクドライブサポート上にディスクドライブを置くことであって、ディスクドライブサポートは、ディスクドライブの非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブの中央部分をサポートするように構成されていることを含む。いくつかの例では、方法は、テストされたディスクドライブを転送ステーションによって収容されている戻りトートに選択的に配送するようにロボットアームを駆動することであって、テストされたディスクドライブが機能性テストに成功裡に合格した時には、ロボットアームはテストされたディスクドライブを合格した戻りトートのディスクドライブレセプタクルに配送し、テストされたディスクドライブが機能性テストに失格した時には、ロボットアームはテストされたディスクドライブを失格した戻りトートのディスクドライブレセプタクルに配送することを更に含む。]
[0019] いくつかの実装では、受け取られたディスクドライブ上で機能テストを行うことは、ディスクドライブを作動している間に、テストスロットの温度を規制することを含む。また、受け取られたディスクドライブを作動することは、ディスクドライブにデータの読み出しおよび書き込みを行うことを含んでも良い。いくつかの例では、方法は、テストスロットの温度を制御するようにテストスロットの上におよび／またはそれを通して空気を循環させること、受け取られたディスクドライブに配送されたパワーを監視および／または規制すること、テストスロットの機能性を検証するようにラックによって収容された自己テストシステムでテストスロット上の自己テストを行うこと、の一つ以上を含む。]
[0020] 方法は、ディスクドライブを搬送している間にロボットアームの案内を補助するようにロボットアーム上に配置された視覚システムと通信することを含んでも良い。方法はまた、視覚システムによって認識されたラック、テストスロット、転送ステーション、および／またはディスクドライブトート上の基準マークにロボットアームを揃えることによってロボットアームをカリブレートすることを含んでも良い。]
[0021] 開示の一つ以上の実装の詳細が、添付の図面と以下の記載に示されている。他の特徴、目的および利点は、記載と図面から、および請求項から、明らかとなるであろう。]
図面の簡単な説明

[0022] 図１は、ディスクドライブテストシステムの斜視図である。
図２は、ディスクドライブテストシステムの上面図である。
図３は、ディスクドライブテストシステムの斜視図である。
図４は、異なるサイズのラックと設置面積を持ったディスクドライブテストシステムの上面図である。
図５は、異なるサイズのラックと設置面積を持ったディスクドライブテストシステムの上面図である。
図６は、ディスクドライブテストシステムの斜視図である。
図７は、垂直および水平駆動サポート上に支持されたロボットアームの側面図である。
図８は、２つのロボットアームを持ったディスクドライブテストシステムの斜視図である。
図９は、回転サポート上に支持されたロボットアームを含んだディスクドライブテストシステムの上面図である。
図１０は、転送ステーションの斜視図である。
図１１は、複数のディスクドライブレセプタクルを規定するトートの斜視図である。
図１２は、片持ち梁型ディスクドライブサポートを有するトートの斜視図である。
図１３は、ディスクドライブ搬送器の斜視図である。
図１４は、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器の斜視図である。
図１５は、ディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器の下方斜視図である。
図１６は、テストスロットへの挿入のために揃えられたディスクドライブを搬送しているディスクドライブ搬送器の斜視図である。
図１７は、ディスクドライブテストシステムの概略図である。
図１８は、自己テストおよび機能テスト能力を持ったディスクドライブテストシステムの概略図である。] 図１ 図１０ 図１１ 図１２ 図１３ 図１４ 図１５ 図１６ 図１７ 図１８
実施例

[0023] 様々な図面における同様の参照符号は同様の要素を示す。]
[0024] 図１−３を参照すると、いくつかの実装では、ディスクドライブテストシステム１００は、床面１０に実質的に垂直な第一の軸２０５を規定する少なくとも一つのロボットアーム２００を含む。ロボットアーム２００は、第一の軸２０５の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸２０５から放射状に伸びるように動作し得る。いくつかの例では、ロボットアーム２００は、第一の軸２０５の周りを３６０°回転し得て、ディスクドライブ５００および／またはディスクドライブ５００を搬送しているディスクドライブ搬送器５５０を扱うようにロボットアーム２００の末梢端に配置されたマニピュレータ２１２を含む（例えば、図１３−１４参照）。多数のラック３００が、ロボットアーム２００によってサービスされるためにロボットアーム２００の周りに配置される。各ラック３００は、テストのためにディスクドライブ５００を受け取るように構成された多数のテストスロット３１０を収容している。ロボットアーム２００は実質的に円筒形の作業エンベロープ容積２１０を規定し、ラック３００はロボットアーム２００によってサービスされるための各テストスロット３１０のアクセス可能性のために作業エンベロープ容積２１０内に配置されている（例えば、図４と５参照）。実質的に円筒形の作業エンベロープ容積２１０は、コンパクトな設置面積を提供し、一般に高さ制約によってのみ容量が制限される。] 図１ 図１３ 図４
[0025] ロボットアーム２００は、テストシステム１００を通じたディスクドライブ５００の連続した流れを提供するように各テストスロット３１０を個別にサービスするように構成されていても良い。テストシステム１００を通じた個別のディスクドライブ５００の連続した流れは、各ディスクドライブ５００についてランダムなスタートおよびストップ時間を許容するのに対し、一度に実行されるべきディスクドライブ５００のバッチを要求するシステムは同じスタートおよびエンド時間を持たなければならない。従って、連続した流れがあると、異なる容量のディスクドライブ５００を同時に実行して必要に応じてサービスされる（装填される／抜き取りされる）ことができる。]
[0026] 土台だけで建っているロボットアーム２００のラック３００からの隔離は、共通のサポート構造として床面１０（例えば、図１０参照）のみを共有するラック３００の振動制御を補助する。つまり、ロボットアーム２００はラック３００から脱結合し、床面１０のみを二つの構造の間の接続の唯一の手段として共有する。いくつかの場合には、各ラック３００は約４８０個のテストスロット３１０を収容する。他の場合には、ラック３００は、サイズとテストスロット容量において様々である。] 図１０
[0027] 図１−３に描かれた例では、ラック３００は、ロボットアーム２００の第一の軸２０５から等距離に放射状に離れて配置される。しかしながら、ラック３００は、作業エンベロープ容積２１０内でロボットアーム２００の周りにいかなるパターンでいかなる距離に配置されても良い。ラック３００は、その例が図４−５に示されている、開いたまたは閉じた八角形、正方形、三角形、台形、またはその他の多角形のような、ロボットアーム２００の第一の軸２０５の周りの少なくとも部分的に閉じた多角形に配置されている。ラック３００は、特定の設置面積に適合するように異なるサイズと形状に構成されていても良い。ロボットアーム２００の周りのラック３００の配置は、対称的であっても非対称的であっても良い。] 図１ 図４
[0028] 図３と６に示された例では、ロボットアーム２００は、床面１０上の台座またはリフト２５０によって持ち上げられ、その上にサポートされている。台座またはリフト２５０は、ロボットアーム２００がテストスロット３１０をサービスするのに上向きだけでなく下向きにも届くことを許容することによって、作業エンベロープ容積２１０の高さを増加する。作業エンベロープ容積２１０の高さは、図７に示されるように、台座またはリフト２５０に垂直アクチュエータを追加し、ロボットアーム２００をサポートする垂直駆動サポート２５２としてそれを構成することによって更に増加できる。いくつかの例では、垂直駆動サポート２５２は、ロボットアーム２００をサポートしている垂直トラックとして構成され、ロボットアーム２００をトラックに沿って垂直に動かすためのアクチュエータ（例えば、駆動されたボールスクリューまたはベルト）を含む。図７にまた示されている水平駆動サポート２５４（例えば、リニアアクチュエータ）がロボットアーム２００をサポートするのに使われても良く、ロボットアーム２００を床面１０に沿って水平に動かすように動作し得る。示された例では、ロボットアーム２００をサポートしている垂直および水平駆動サポート２５２と２５４の組み合わせが、上から見て引き伸ばされた実質的に楕円形のプロファイルを有する拡大された作業エンベロープ容積２１０を提供する。] 図３ 図７
[0029] 図８に描かれた例では、ディスクドライブテストシステム１００は、両方共第一の軸２０５の周りを回転している２つのロボットアーム２００Ａと２００Ｂを含む。一つのロボットアーム２００Ａは床面１０上にサポートされている一方、他のロボットアーム２００Ｂは天井構造１２から吊り下げられている。同様に、図７に示された例では、追加のロボットアーム２００が垂直駆動サポート２５２上で動作可能であっても良い。] 図７ 図８
[0030] 図９に描かれた例では、ディスクドライブテストシステム１００は、ロボットアーム２００をサポートする回転可能テーブル２６０を含む。回転可能テーブル２６０は、床面１０に実質的に垂直な第二の軸２６２の周りでロボットアーム２００を回転するように動作し得て、これにより第一の軸２０５の周りだけを回転しているロボットアーム２００よりも大きな作業エンベロープ容積２１０を提供する。] 図９
[0031] 図７−８に戻ると、いくつかの実装では、ディスクドライブテストシステム１００は、ロボットアーム２００上に配置された視覚システム２７０を含む。視覚システム２７０は、ディスクドライブ５００を搬送している間にロボットアーム２００の案内を補助するように構成されている。特に、視覚システム２７０は、テストスロット３１０および／またはトート４５０中への挿入のための、マニピュレータ２１２によって保持されたディスクドライブ搬送器５５０の揃えを補助する。視覚システム２７０は、ラック３００、好ましくはテストスロット３１０、上の基準マーク３１４にロボットアーム２００を揃えることによってロボットアーム２００をカリブレートしても良い。いくつかの例では、基準マーク３１４は、ラック３００上のテストスロット３１０の開口部３１２の隅付近に位置する「Ｌ」字型のマークである。ロボットアーム２００は、テストスロット３１０にアクセス（例えば、ディスクドライブ５００を搬送していても良いディスクドライブ搬送器５５０をピックアップするかまたは置くように）する前に、それ自身を基準マーク３１４に揃える。継続したロボットアームの揃えは、ロボットアーム２００の正確さと評判のよさを拡張する一方で、ディスクドライブ５００を搬送しているディスクドライブ搬送器５５０の置き間違い（それはディスクドライブ５００および／またはディスクドライブテストシステム１００への損傷に結果としてなり得る）を最小化する。] 図７
[0032] いくつかの実装では、ディスクドライブテストシステム１００は、図１−３と１０に示されるような転送ステーション４００を含む。一方他の実装では、ディスクドライブテストシステム１００はディスクドライブ５００をロボットアーム２００に供給するベルトコンベア（図示せず）またはオペレーターを含んでいても良い。転送ステーション４００を含んだ例では、ロボットアーム２００は、ディスクドライブ５００を転送ステーション４００とテストスロット３１０の間で転送することによって各テストスロット３１０を個別にサービスする。転送ステーション４００は、各々がトート４５０を受け取るように構成された多数のトートレセプタクル４３０を含む。トート４５０は、テストおよび／または格納のためにディスクドライブ５００を収容するディスクドライブレセプタクル４５４を規定する。各ディスクドライブレセプタクル４５４では、収容されたディスクドライブ５００がディスクドライブサポート４５６によってサポートされる。ロボットアーム２００は、マニピュレータ２１２でディスクドライブ搬送器５５０をテストスロット３１０の一つから取り除き、それからディスクドライブ搬送器５５０で転送ステーション４００におけるディスクドライブレセプタクル４５４の一つからディスクドライブ５００をピックアップし、それからその中にディスクドライブ５００を持ったディスクドライブ搬送器５５０をディスクドライブ５００のテストのためにテストスロット３１０に戻すように構成されている。テストの後、ロボットアーム２００は、テストされたディスクドライブ５００を搬送しているディスクドライブ搬送器５５０をテストスロット３１０から取り除き（例えば、マニピュレータ２１２で）、ディスクドライブ搬送器５５０中のテストされたディスクドライブ５００を転送ステーション４００に搬送し、テストされたディスクドライブ５００を転送ステーション４００におけるディスクドライブレセプタクル４５４の一つに戻すようにディスクドライブ搬送器５５０をマニピュレートすることによって、テストされたディスクドライブ５００をテストスロット３１０から取り出す。ロボットアーム２００上に視覚システム２７０を含む実装では、転送ステーション４００においてディスクドライブ５００を取り出すかまたは預ける際にロボットアームの案内を補助するように、基準マーク３１４は一つ以上のディスクドライブレセプタクル４５４に隣接して位置していても良い。] 図１
[0033] いくつかの例では、転送ステーション４００は、縦軸４１５を規定するステーションハウジング４１０を含む。一つ以上のトート受け取り器４２０が、ステーションハウジング４１０中に、例えば縦軸４１５に沿って伸びているスピンドル４１２上に、回転可能に載置される。各トート受け取り器４２０は、個別のそれぞれのスピンドル４１２上または共通のスピンドル４１２上で回転しても良い。各トート受け取り器４２０は、第一および第二の反対向きのトートレセプタクル４３０Ａと４３０Ｂを規定する。示された例では、転送ステーション４００は、スピンドル４１２上に積み上げられた３つのトート受け取り器４２０を含む。各トート受け取り器４２０は、他とは独立に回転可能であり、サービス位置（例えば、オペレーターによってアクセス可能な）とロボットアーム２００によってアクセス可能なテスト位置の間で受け取られたディスクドライブトート４５０を回転しても良い。示された例では、各トート受け取り器４２０は、第一の位置（例えば、サービス位置）と第二の位置（テスト位置）の間で回転可能である。第一の位置にいる間、オペレーターは第一のトートレセプタクル４３０Ａへのアクセスを提供され、ロボットアーム２００は反対側で第二のトートレセプタクル４３０Ｂへのアクセスを提供される。第二の位置にいる間、ロボットアーム２００は第一のトートレセプタクル４３０Ａへのアクセスを提供され、オペレーターは反対側で第二のトートレセプタクル４３０Ｂへのアクセスを提供される。結果として、オペレーターは、転送ステーション４００の一つの側でトートレセプタクル４３０中にトート４５０を装填／抜き取りすることによって転送ステーション４００をサービスしても良い一方、ロボットアーム２００は、ディスクドライブ５００の装填／抜き取りのために転送ステーション４００の反対側でトートレセプタクル４３０に収容されたトート４５０へのアクセスを持つ。]
[0034] 転送ステーション４００は、ディスクドライブテストシステム１００へ／からディスクドライブ５００を配送し、取り出すためのサービスポイントを提供する。トート４５０は、転送ステーション４００へ／からディスクドライブ５００のバッチを配送し、取り出すことをオペレーターに許容する。図１０に示された例では、第二の位置でそれぞれのトート受け取り器４２０からアクセス可能な各トート４５０は、テストのためにディスクドライブ５００を供給するためのソーストート４５０として、またはテストされたディスクドライブ５００を受け取るための宛先トート４５０として、指名されても良い。宛先トート４５０は、それぞれ機能テストに合格かまたは失格したそれぞれのディスクドライブ５００を受け取るための、「合格した戻りトート」または「失格した戻りトート」として分類されても良い。] 図１０
[0035] ハウジングドア４１６は、転送ステーションハウジング４１０に旋回可能またはスライド可能に取り付けられ、一つ以上のトートレセプタクル４３０へのアクセスをオペレーターに提供するように構成されている。オペレーターは、特定のトート受け取り器４２０に関連付けられたハウジングドア４１６を開いて、それぞれのトートレセプタクル４３０中にトート４５０を装填／抜き取りする。転送ステーション４００は、関連付けられたハウジングドア４１６が開いている間、それぞれのトート受け取り器４２０を静止したまま保持するように構成されていても良い。]
[0036] いくつかの例では、転送ステーション４００は、転送ステーション４００の一つ以上の状態の視覚的、聴覚的またはその他の認識可能な表示を提供するステーションインジケーター４１８を含む。一つの例では、ステーションインジケーター４１８は、一つ以上のトート受け取り器４２０がサービスされること（例えば、特定のトート受け取り器４２０からトート４５０を装填／抜き取りするのに）を必要としている時を示すライト（例えば、ＬＥＤ）を含む。他の例では、ステーションインジケーター４１８は、オペレーターに転送ステーション４００をサービスするように合図する一つ以上の聴取可能な信号（例えば、ちいちい、かちかち等）を提供する一つ以上のオーディオ装置を含む。ステーションインジケーター４１８は、示されているように、縦軸４１５に沿って、またはステーションハウジング４１０のどこか別の部分上に、配置されても良い。]
[0037] 図１１に描かれた例では、トート４５０Ａは、多数のディスクドライブレセプタクル４５４Ａを規定するトート本体４５２Ａを含む。各ディスクドライブレセプタクル４５４Ａは、ディスクドライブ５００を収容するように構成されている。この例では、各ディスクドライブレセプタクル４５４Ａは、ディスクドライブ５００の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ５００の中央部分５０２をサポートするように構成されたディスクドライブサポート４５６Ａを含む。ディスクドライブレセプタクル４５４Ａから収容されたディスクドライブ５００を取り除くには、ディスクドライブ搬送器５５０がディスクドライブレセプタクル４５４Ａ中のディスクドライブ５００の下に（例えば、ロボットアーム２００によって）置かれ、ディスクドライブサポート４５６Ａからディスクドライブ５００を持ち上げるように上げられる。ディスクドライブ搬送器５５０はそれから、テストスロット３１０のような宛先ターゲットへの配送のためにディスクドライブ５００を搬送しながら、ディスクドライブレセプタクル４５４Ａから取り除かれる。] 図１１
[0038] 図１２に描かれた例では、トート４５０Ｂは、多数のディスクドライブサポート４５６Ｂによってディスクドライブレセプタクル４５４Ｂに分割されたコラム空孔４５３Ｂを規定するトート本体４５２Ｂを含む。ディスクドライブサポート４５６Ｂは、コラム空孔４５３Ｂの後壁４５７Ｂから片持ち梁で離される。ディスクドライブサポート４５６Ｂは、ディスクドライブ５００の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ５００の中央部分５０２をサポートするように構成されている。片持ち梁型ディスクドライブサポート４５６Ｂは、ディスクドライブ搬送器５５０を（例えば、図１３に示されるように）直ぐ下の空のディスクドライブレセプタクル４５４Ｂ中に挿入し、ディスクドライブレセプタクル４５４Ｂからの取り除きのためにディスクドライブサポート４５６Ｂからディスクドライブ５００を持ち上げることによって、トート４５０Ｂからのディスクドライブ５００の取り出しを許容する。トート４５０Ｂ中にディスクドライブ５００を預けるためには同じステップを逆に繰り返す。示されるように、各コラム空孔４５３Ｂ中の一番下のディスクドライブレセプタクル４５４Ｂは、その上のディスクドライブレセプタクル４５４Ｂ中に収容されたディスクドライブ５００の取り除きを容易とするために空のまま残される。従って、ディスクドライブ５００は、特定のコラム中で順次続いた順番で装填／抜き取りされなければならない；ただし、図１１に示されたトート解決策よりも大きな格納密度が達成される。] 図１１ 図１２ 図１３
[0039] 図１３−１６を参照すると、いくつかの例では、テストスロット３１０は、ディスクドライブ搬送器５５０を受け取るように構成されている。ディスクドライブ搬送器５５０は、ディスクドライブ５００を受け取り、ロボットアーム２００によって扱われるように構成されている。使用においては、ディスクドライブ搬送器５５０の一つがロボットアーム２００でテストスロット３１０の一つから取り除かれる（例えば、搬送器５５０のへこみ５５２をロボットアーム２００のマニピュレータ２１２で掴むか、さもなければ係合することによって）。図１３に描かれているように、ディスクドライブ搬送器５５０は、側壁５６２と５６４と底板５６６によって形成された実質的にＵ字型の開口部５６１を規定するフレーム５６０を含み、側壁５６２と５６４と底板５６６は、ディスクドライブ搬送器５５０がトート４５０のディスクドライブレセプタクル４５４の一つに収容されたディスクドライブ５００の一つの下の位置に動かされることができる（例えば、ロボットアーム２００を介して）ように、フレーム５６０がトート４５０中のディスクドライブサポート４５６の周りに適合することを集合的に許容する。ディスクドライブ搬送器５５０はそれから、トート４５０中のディスクドライブサポート４５６からの取り除きのためにディスクドライブ５００と係合する位置に上げられる（例えば、ロボットアーム２００によって）ことができる。] 図１３
[0040] ディスクドライブ搬送器５５０のフレーム５６０内にディスクドライブ５００が置かれると、図１６に示されているように、ディスクドライブ搬送器５５０とディスクドライブ５００は一緒に、テストスロット３１０の一つ内への設置のためにロボットアーム２００によって動かされることができる。マニピュレータ２１２はまた、ディスクドライブ搬送器５５０中に配置されたクランプ機構５７０の駆動を開始するように構成されている。これは、移動中にディスクドライブ搬送器５５０に対するディスクドライブ５００の動きを禁じるように、搬送器５５０がトート４５０からテストスロット３１０に動かされる前にクランプ機構５７０の駆動を許容する。テストスロット３１０への挿入に先立って、マニピュレータ２１２は、フレーム５６０内でディスクドライブ５００を開放するように再度クランプ機構５７０を駆動することができる。これは、ディスクドライブコネクター５１０がテストスロットコネクター（図示せず）と係合されてディスクドライブ５００がテスト位置にくるまで、テストスロット３１０の一つの中へのディスクドライブ搬送器５５０の挿入を許容する。クランプ機構５７０はまた、テストスロット３１０に対するディスクドライブ搬送器５５０の動きを禁じるように、一旦その中に受け取られたテストスロット３１０と係合するように構成されていても良い。そのような実装では、一旦ディスクドライブ５００がテスト位置にくると、テストスロット３１０に対するディスクドライブ搬送器５５０の動きを禁じるように、クランプ機構５７０が再度係合される（例えば、マニピュレータ２１２によって）。このやり方でのディスクドライブ搬送器５５０のクランピングは、テスト中の振動を低減するのを助けることができる。いくつかの例では、挿入後に、ディスクドライブ搬送器５５０とその中に搬送されたディスクドライブ５００は両方、テストスロット３１０内に組み合わせでかあるいは個別にクランプされるかまたはしっかり留められる。クランプ機構５７０の詳細な記載と、ここに記載されたものと組み合わせ可能なその他の詳細および特徴は、ここに同時に出願された以下の米国特許出願：“DISKDRIVE TRANSPORT, CLAMPING AND TESTING”と題され、代理人ドケット番号が18523-067001で、発明者がBrian
Merrow et al.で、付与されたシリアル番号が11/959,133であるもの、に見つけることができる。] 図１６
[0041] ディスクドライブ５００は振動に敏感であり得る。単一のテストラック３００の中に多数のディスクドライブ５００をフィットさせてディスクドライブ５００を実行すること（例えば、テスト中に）と、各々がオプションでディスクドライブ５００を搬送しているディスクドライブ搬送器５５０のテストラック３００中の様々なテストスロット３１０からの挿入と取り除きは、望ましくない振動のソースとなることができる。いくつかの場合には、例えば、ディスクドライブ５００の一つがテストスロット３１０の一つ内でのテストの下に動作している一方で、他のものが同じテストラック３００中の隣接するテストスロット３１０中で取り除かれて挿入されている。上述したように、ディスクドライブ搬送器５５０がテストスロット３１０中に完全に挿入された後にディスクドライブ搬送器５５０をテストスロット３１０にクランプすることは、ディスクドライブ搬送器５５０の挿入と取り除きの間にディスクドライブ搬送器５５０とテストスロット３１０の間の接触と擦りを制限することによって振動を低減または制限するのを助けることができる。]
[0042] 図１７を参照すると、いくつかの実装では、ディスクドライブテストシステム１００は、テストスロット３１０と通信している少なくとも一つのコンピュータ３２０を含む。コンピュータ３２０は、ディスクドライブ５００の在庫コントロールおよび／またはディスクドライブテストシステム１００を制御する自動化インターフェースを提供するように構成されていても良い。パワーシステム３３０は、ディスクドライブテストシステム１００にパワーを供給する。パワーシステム３３０は、テストスロット３１０中の受け取られたディスクドライブ５００へのパワーを監視および／または規制しても良い。温度制御システム３４０は、各テストスロット３１０の温度を制御する。温度制御システム３４０は、テストスロット３１０の上におよび／またはそれを通して空気を循環させるように動作し得る空気移動器３４２（例えば、ファン）であっても良い。いくつかの例では、空気移動器３４２は、テストスロット３１０の外部に位置している。能動的または受動的振動制限のような振動制御システム３５０は、各テストスロット３１０の振動を制御する。いくつかの例では、振動制御システム３５０は、テストスロット３１０の部品がグロメットアイソレータ（例えば、熱可塑性ビニール）および／またはエラストマーマウント（例えば、ウレタンエラストマー）を介して接続される受動的振動制限システムを含む。いくつかの例では、振動制御システム３５０は、ラック３００および／またはテストスロット３１０中の振動を制御する、ばね、ダンパー、制御ループを持った能動的制御システムを含む。データインターフェース３６０は、各テストスロット３１０と通信している。データインターフェース３６０は、テストスロット３１０によって受け取られたディスクドライブ５００と通信するように構成されている。] 図１７
[0043] 図１８に描かれた例では、各ラック３００は、少なくとも一つのテストスロット３１０と通信している少なくとも一つの自己テストシステム６００を含む。自己テストシステム６００は、ディスクドライブテストシステム１００および／またはテストスロット３１０のような特定のサブシステムが、適切に機能しているかどうかをテストする。自己テストシステム６００は、クラスターコントローラ６１０と、テストスロット３１０中に受け取られたディスクドライブ５００と電気通信している接続インターフェース回路６２０と、接続インターフェース回路６２０と電気通信しているブロックインターフェース回路６３０を含む。クラスターコントローラ６１０は、テストスロット３１０上の多数の自己テストおよび／またはディスクドライブ５００上の機能テストのような一つ以上のテストプログラムを実行するように構成されていても良い。接続インターフェース回路６２０とブロックインターフェース回路６３０は、自己テストをするように構成されていても良い。いくつかの例では、自己テストシステム６００は、ディスクドライブテストシステム１００の一つ以上の部品上で自己テストルーティンを実行し制御するように構成された自己テスト回路６４０を含む。例えば、自己テスト回路６４０は、ディスクドライブテストシステム１００の一つ以上の部品上で「ディスクドライブ」タイプおよび／または「テストスロットのみ」タイプの自己テストを行うように構成されていても良い。クラスターコントローラ６１０は、イーサネット（登録商標）（例えば、ギガビットイーサネット（登録商標））を介して自己テスト回路６４０と通信していても良く、それはユニバーサル非同期受信機／送信機（ＵＡＲＴ）シリアルリンクを介してブロックインターフェース回路６３０と、そして接続インターフェース回路６２０とディスクドライブ５００まで通信しても良い。ＵＡＲＴは通常、コンピュータまたは周辺機器シリアルポートの上でシリアル通信のために使われる個別の集積回路（またはその一部）である。ブロックインターフェース回路６３０は、テストスロット３１０のパワーと温度を制御するように構成され、多数のテストスロット３１０および／またはディスクドライブ５００を制御しても良い。] 図１８
[0044] 各ラック３００は、いくつかの例では、少なくとも一つのテストスロット３１０と通信している少なくとも一つの機能テストシステム６５０を含む。機能テストシステム６５０は、ディスクドライブ搬送器５５０によってテストスロット３１０中に保持されたおよび／またはサポートされた、受け取られたディスクドライブ５００が適切に機能しているかどうかをテストする。機能性テストは、ディスクドライブ５００によって受け取られたパワーの量、動作温度、データを読み出しおよび書き込みする能力、および異なる温度でデータを読み出しおよび書き込みする能力（例えば、熱い間に読み出し、冷たい間に書き込む、またはその逆）をテストすることを含む。機能性テストは、ディスクドライブ５００の全てのメモリセクターかまたはランダムなサンプリングだけをテストしても良い。機能性テストは、ディスクドライブ５００の動作温度と、またディスクドライブ５００との通信のデータの完全性をテストしても良い。機能テストシステム６５０は、クラスターコントローラ６１０と、クラスターコントローラ６１０と電気通信している少なくとも一つの機能インターフェース回路６６０を含む。接続インターフェース回路６２０は、テストスロット３１０中に受け取られたディスクドライブ５００と機能インターフェース回路６６０と電気通信している。機能インターフェース回路６６０は、ディスクドライブ５００に機能テストルーティンを通信するように構成されている。機能テストシステム６５０は、クラスターコントローラ６１０と一つ以上の機能インターフェース回路６６０の間に電気通信を提供する通信スイッチ６７０（例えば、ギガビットイーサネット（登録商標））を含んでいても良い。好ましくは、コンピュータ３２０と、通信スイッチ６７０と、クラスターコントローラ６１０と、機能インターフェース回路６６０はイーサネット（登録商標）ネットワーク上で通信する。しかしながら、他の形態の通信が使われても良い。機能インターフェース回路６６０は、パラレルＡＴアタッチメント（ＩＤＥ，ＡＴＡ，ＡＴＡＰＩ，ＵＤＭＡおよびＰＡＴＡとしても知られるハードディスクインターフェース）、ＳＡＴＡ、またはＳＡＳ（Serial AttachedSCSI）を介して接続インターフェース回路６２０に通信しても良い。]
[0045] ディスクドライブテストを行う方法は、転送ステーション４００中に多数のディスクドライブ５００を装填すること（例えば、ディスクドライブトート４５０によって規定されたディスクドライブレセプタクル４５４中にディスクドライブ５００を装填し、転送ステーション４００によって規定されたトートレセプタクル４３０中にディスクドライブトート４５０を装填することによってのように）を含む。方法は、ラック３００中に収容されたテストスロット３１０からディスクドライブ搬送器５５０を取り出すようにロボットアーム２００を駆動することと、転送ステーション４００からディスクドライブ５００の一つを取り出し、ディスクドライブ搬送器５５０中でディスクドライブ５００を搬送するようにロボットアーム２００を駆動することを含む。ロボットアーム２００は、床面１０に実質的に垂直にロボットアーム２００によって規定された第一の軸２０５の周りの所定の弧を通して回転し、第一の軸２０５から放射状に伸びるように動作し得る。方法は、ディスクドライブ５００を搬送しているディスクドライブ搬送器５５０をテストスロット３１０に配送するようにロボットアーム２００を駆動することと、受け取られたディスクドライブ搬送器５５０とテストスロット３１０によって収容されたディスクドライブ５００上で機能性テストを行うことを含む。方法はそれから、テストされたディスクドライブ５００を搬送しているディスクドライブ搬送器５５０をテストスロット３１０から取り出し、テストされたディスクドライブ５００を転送ステーション４００に配送して戻すようにロボットアーム２００を駆動することを含む。いくつかの実装では、ラック３００と２つ以上の関連するテストスロット３１０は、テストスロット３１０が異なる種類のテストのために供される場合には、一つのテストスロット３１０から別のテストスロット３１０に内部的にディスクドライブ５００を移動するように構成されている。]
[0046] いくつかの例では、方法は、ディスクドライブトート４５０のディスクドライブレセプタクル４５４中にテストされたディスクドライブ５００を預けた後にテストスロット３１０中のディスクドライブ搬送器５５０を預けるようにロボットアーム２００を駆動すること、またはディスクドライブトート４５０の別のディスクドライブレセプタクル４５４からテストのための別のディスクドライブ５００を取り出すことによって方法を繰り返すことを含む。いくつかの例では、テストスロット３１０にディスクドライブ搬送器５５０を配送することは、ディスクドライブ５００を搬送しているディスクドライブ搬送器５５０をラック３００中のテストスロット３１０中に挿入することと、ディスクドライブ５００とラック３００の間に電気接続を確立することを含む。]
[0047] いくつかの実装では、方法は、ディスクドライブ５００を作動している間にテストスロット３１０の温度を規制することを含んだ、受け取られたディスクドライブ５００上で機能性テストを行うことを含む。受け取られたディスクドライブ５００の動作は、ディスクドライブ５００へのデータの読み出しおよび書き込みを行うことを含む。方法はまた、テストスロット３１０の温度を制御するようにテストスロット３１０の上におよび／またはそれを通して空気を循環させることと、ディスクドライブ５００に配送されたパワーを監視および／または規制することを含んでいても良い。]
[0048] いくつかの例では、方法は、テストスロット３１０の機能性を検証するようにラック３００によって収容された自己テストシステム６００でテストスロット３１０上の「ディスクドライブ」タイプおよび／または「テストスロットのみ」タイプの自己テストを行うことを含む。「ディスクドライブ」タイプの自己テストは、ディスクドライブ搬送器５５０によってテストスロット３１０中に保持されたおよび／またはサポートされた、受け取られたディスクドライブ５００でディスクドライブテストシステムの機能性をテストする。「テストスロットのみ」タイプの自己テストは、空である間のテストスロット３１０の機能性をテストする。]
[0049] いくつかの例では、方法は、ディスクドライブ搬送器５５０によって搬送されていても良いディスクドライブ５００を搬送している間にロボットアーム２００の案内を補助するようにロボットアーム２００上に配置された視覚システム２７０と通信することを含む。方法は、視覚システム２７０によって認識されたラック３００、テストスロット３１０、転送ステーション４００および／またはトート４５０上の基準マーク３１４にロボットアーム２００を揃えることによってロボットアーム２００をカリブレートすることを含む。]
[0050] ここに記載されたものと組み合わせ可能なその他の詳細および特徴は、ここに同時に出願された米国特許出願：“DISKDRIVE TESTING”と題され、代理人ドケット番号が18523-062001で、発明者がEdward Garcia et al.で、付与されたシリアル番号が11/958,788であるもの、に見つけることができる。]
[0051] 数々の実装が記載された。それにも拘らず、開示の精神と範囲から逸脱することなく様々な変形がなされても良いということが理解されるであろう。従って、その他の実装は以下の請求項の範囲内である。]

权利要求:

請求項1
床面（１０）に実質的に垂直な第一の軸（２０５）を規定する少なくとも一つのロボットアーム（２００）であって、ロボットアーム（２００）は、第一の軸（２０５）の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸（２０５）から放射状に伸びるように動作し得るものと、ロボットアーム（２００）の周りに配置され、ロボットアーム（２００）によってサービスされる多数のラック（３００）と、各ラック（３００）によって収容された多数のテストスロット（３１０）であって、各テストスロット（３１０）はテストのためにディスクドライブ（５００）を搬送するように構成されたディスクドライブ搬送器（５５０）を受け取るように構成されているものと、ロボットアーム（２００）によってサービスされるように配置された転送ステーション（４００）であって、転送ステーション（４００）は、各々がディスクドライブトート（４５０）を受け取るように構成された多数のトートレセプタクル（４３０）を含むものと、を含むディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項2
ロボットアーム（２００）が、テストスロット（３１０）の一つのディスクドライブ搬送器（５５０）と係合するように構成されたマニピュレータ（２１２）を含み、ロボットアーム（２００）は、テストのためにディスクドライブ搬送器（５５０）中のディスクドライブ（５００）をテストスロット（３１０）に搬送するように動作し得るものである、請求項１のディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項3
ロボットアーム（２００）は実質的に円筒形の作業エンベロープ容積（２１０）を規定し、ラック（３００）と転送ステーション（４００）はロボットアーム（２００）によってサービスされるために作業エンベロープ容積（２１０）内に配置されており、好ましくはラック（３００）と転送ステーション（４００）はロボットアーム（２００）の第一の軸（２０５）の周りの少なくとも部分的に閉じた多角形中に配置されている、請求項１または２のディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項4
転送ステーション（４００）は、床面（１０）に実質的に垂直に転送ステーション（４００）によって規定された縦軸（４１５）の周りを回転するように動作し得る、請求項１〜３のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項5
転送ステーション（４００）は、第一と第二の反対向きのトートレセプタクル（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）を規定する転送ステーションハウジング（４１０）を含む、請求項１〜４のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項6
転送ステーション（４００）は、縦軸（４１５）を規定するステーションハウジング（４１０）と、縦軸（４１５）の周りを回転するように回転可能の載置された多数のトート受け取り器（４２０）であって、各トート受け取り器（４２０）は、他とは独立に回転可能であり、第一と第二の反対向きのトートレセプタクル（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）を規定しているものと、を含む、請求項１〜５のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項7
ロボットアーム（２００）は、転送ステーション（４００）の受け取られたディスクドライブトート（４５０）とテストスロット（３１０）の間でディスクドライブ（５００）を転送することによって各テストスロット（３１０）を個別にサービスする、請求項１〜６のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項8
ディスクドライブトート（４５０）は、各々がディスクドライブ（５００）を収容するように構成された多数のディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）を規定しているトート本体（４５２Ａ、４５２Ｂ）を含む、請求項１〜７のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項9
各ディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）は、ディスクドライブ（５００）の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ（５００）の中央部分（５０２）をサポートするように構成されたディスクドライブサポート（４５６Ａ、４５６Ｂ）を規定する、請求項８のディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項10
ディスクドライブトート（４５０）は、多数のコラム空孔（４５３Ｂ）を規定しているトート本体（４５２Ｂ）と、各コラム空孔（４５３Ｂ）中に配置され、コラム空孔（４５３Ｂ）を各々がディスクドライブ（５００）を受け取るように構成された多数のディスクドライブレセプタクル（４５４Ｂ）に分割している、多数の片持ち梁型ディスクドライブサポート（４５６Ｂ）と、を含み、各ディスクドライブサポート（４５６Ｂ）は、ディスクドライブ（５００）の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ（５００）の中央部分（５０２）をサポートするように構成されている、請求項１〜９のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項11
テストスロット（３１０）と通信している少なくとも一つのコンピュータ（３２０）と、ディスクドライブテストシステム（１００）にパワーを供給するパワーシステム（３３０）と、各テストスロット（３１０）の温度を制御する温度制御システム（３４０）と。ラック振動を制御する振動制御システム（３５０）と、各テストスロット（３１０）と通信しているデータインターフェース（３６０）であって、データインターフェース（３６０）は、テストスロット（３１０）によって受け取られたディスクドライブ搬送器（５５０）中のディスクドライブ（５００）と通信するように構成されているものと、を更に含む請求項１〜１０のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項12
パワーシステム（３３０）は、テストスロット（３１０）中の受け取られたディスクドライブ（５００）へのパワーを監視および／または規制するように構成されている、請求項１１のディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項13
温度制御システム（３４０）は、テストスロット（３１０）を通して空気を循環させるように動作し得る空気移動器（３４２）を含む、請求項１１または請求項１２のディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項14
各ラック（３００）が少なくとも一つのテストスロット（３１０）と通信している少なくとも一つの自己テストシステム（６００）を含み、自己テストシステム（６００）は、クラスターコントローラ（６１０）と、テストスロット（３１０）に受け取られたディスクドライブ（５００）と電気通信している接続インターフェース回路（６２０）と、接続インターフェース回路（６２０）と電気通信しているブロックインターフェース回路（６３０）であって、ブロックインターフェース回路（６３０）はテストスロット（３１０）のパワーと温度を制御するように構成されているものとを含み、接続インターフェース回路（６２０）とブロックインターフェース回路（６３０）は、ディスクドライブテストシステム（１００）の少なくとも一つの部品の機能性をテストするように構成されている、請求項１〜１３のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項15
各ラック（３００）が少なくとも一つのテストスロット（３１０）と通信している少なくとも一つの機能テストシステム（６５０）を含み、機能テストシステム（６５０）は、クラスターコントローラ（６１０）と、クラスターコントローラ（６１０）と電気通信している少なくとも一つの機能インターフェース回路（６６０）と、テストスロット（３１０）に受け取られたディスクドライブ（５００）と少なくとも一つの機能インターフェース回路（６６０）と電気通信している接続インターフェース回路（６２０）であって、少なくとも一つの機能インターフェース回路（６６０）はディスクドライブ（５００）に機能テストルーティンを通信するように構成されている請求項１〜１４のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項16
機能テストシステム（６５０）は、クラスターコントローラ（６１０）と少なくとも一つの機能インターフェース回路（６６０）の間に電気通信を提供する通信スイッチ（６７０）、好ましくはイーサネット（登録商標）スイッチを更に含む、請求項１５のディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項17
ロボットアーム（２００）上に置かれた視覚システム（２７０）であって、視覚システム（２７０）は、ディスクドライブ（５００）を搬送している間にロボットアーム（２００）の案内を補助し、ロボットアーム（２００）を、好ましくはラック（３１０）および／または転送ステーション（４００）の一つの上の、基準マーク（３１４）に揃えることによってロボットアーム（２００）のカリブレーションを補助するもの、を更に含む請求項１〜１６のいずれかのディスクドライブテストシステム（１００）。
請求項18
各々がディスクドライブ（５００）を収容するように構成された多数のディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）を規定しているトート本体（４５２Ａ、４５２Ｂ）を含み、各ディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）は、ディスクドライブ（５００）の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ（５００）の中央部分（５０２）をサポートするように構成されたディスクドライブサポート（４５６Ａ、４５６Ｂ）を有する、ディスクドライブトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）。
請求項19
多数のコラム空孔（４５３Ｂ）を規定しているトート本体（４５２Ｂ）と、各コラム空孔（４５３Ｂ）中に配置され、コラム空孔（４５３Ｂ）を各々がディスクドライブ（５００）を受け取るように構成された多数のディスクドライブレセプタクル（４５４Ｂ）に分割している、多数の片持ち梁型ディスクドライブサポート（４５６Ｂ）と、を含み、各ディスクドライブサポート（４５６Ｂ）は、ディスクドライブ（５００）の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ（５００）の中央部分（５０２）をサポートするように構成されている、ディスクドライブトート（４５０、４５０Ｂ）。
請求項20
多数のディスクドライブ（５００）を、ディスクドライブトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）によって規定されたディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）中に装填することと、ディスクドライブトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）を、転送ステーション（４００）によって規定されたトートレセプタクル（４３０）中に装填することと、ラック（３００）中に収容されたテストスロット（３１０）からディスクドライブ搬送器（５５０）を取り出すようにロボットアーム（２００）を駆動することと、転送ステーション（４００）からディスクドライブ（５００）の一つを取り出し、ディスクドライブ搬送器（５５０）中でディスクドライブ（５００）を搬送するようにロボットアーム（２００）を駆動し、ロボットアーム（２００）は、床面（１０）に実質的に垂直にロボットアーム（２００）によって規定された第一の軸（２０５）の周りの所定の弧を通して回転し第一の軸（２０５）から放射状に伸びるように動作し得ることと、ディスクドライブ（５００）を搬送しているディスクドライブ搬送器（５５０）をテストスロット（３１０）に配送するようにロボットアーム（２００）を駆動することと、受け取られたディスクドライブ搬送器（５５０）とテストスロット（３1０）によって収容されたディスクドライブ（５００）上で機能性テストを行うことと、テストされたディスクドライブ（５００）を搬送しているディスクドライブ搬送器（５５０）をテストスロット（３１０）から取り出し、テストされたディスクドライブ（５００）を転送ステーション（４００）に配送し戻すようにロボットアーム（２００）を駆動することと、を含むディスクドライブテストを行う方法。
請求項21
空のディスクドライブ搬送器（５５０）をテストスロット（３１０）に預けるようにロボットアーム（２００）を駆動すること、を更に含む請求項２０の方法。
請求項22
ディスクドライブ（５００）を搬送しているディスクドライブ搬送器（５５０）をテストスロット（３１０）に配送することは、ディスクドライブ搬送器（５５０）をラック（３００）中のテストスロット（３１０）中に挿入することと、ディスクドライブ（５００）とラック（３００）の間に電気通信を確立することを含む、請求項２０または請求項２１の方法。
請求項23
転送ステーション（４００）中の受け取られたディスクドライブトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）を、サービス位置とロボットアーム（２００）によってアクセス可能なテスト位置の間で回転すること、を更に含む請求項２０〜２２のいずれかの方法。
請求項24
ディスクドライブ（５００）をディスクドライブトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）中に装填することは、ディスクドライブトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）のトート本体（４５２Ａ、４５２Ｂ）によって規定されたディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）中のディスクドライブサポート（４５６Ａ、４５６Ｂ）上にディスクドライブ（５００）を置くことであって、ディスクドライブサポート（４５６Ａ、４５６Ｂ）は、ディスクドライブ（５００）の非中央部分に沿った扱いを許容するように受け取られたディスクドライブ（５００）の中央部分（５０２）をサポートするように構成されていることを含む、請求項２０〜２３のいずれかの方法。
請求項25
テストされたディスクドライブ（５００）を転送ステーション（４００）によって収容されている戻りトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）に選択的に配送するようにロボットアーム（２００）を駆動することであって、テストされたディスクドライブ（５００）が機能性テストに成功裡に合格した時には、ロボットアーム（２００）はテストされたディスクドライブ（５００）を合格した戻りトート（４５０、４５０Ａ、４５０Ｂ）のディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）に配送し、テストされたディスクドライブ（５００）が機能性テストに失格した時には、ロボットアーム（２００）はテストされたディスクドライブ（５００）を失格した戻りトート（４３０、４３０Ａ、４３０Ｂ）のディスクドライブレセプタクル（４５４Ａ、４５４Ｂ）に配送すること、を更に含む請求項２０〜２４のいずれかの方法。
請求項26
受け取られたディスクドライブ（５００）上で機能性テストを行うことは、ディスクドライブ（５００）を作動している、特にディスクドライブ（５００）にデータの読み出しおよび書き込みを行っている間に、テストスロット（３１０）の温度を規制することを含む、請求項２０〜２５のいずれかの方法。
請求項27
テストスロット（３１０）の温度を制御するようにテストスロット（３１０）を通して空気を循環させること、を更に含む請求項２０〜２６のいずれかの方法。
請求項28
テストスロット（３１０）に受け取られたディスクドライブ（５００）に配送されたパワーを監視および／または規制すること、を更に含む請求項２０〜２７のいずれかの方法。
請求項29
テストスロット（３１０）の機能性を検証するようにラック（３００）によって収容された自己テストシステム（６００）でテストスロット（３１０）上の自己テストを行うこと、を更に含む請求項２０〜２８のいずれかの方法。
請求項30
ディスクドライブ（５００）を搬送している間にロボットアーム（２００）の案内を補助するように、および／またはロボットアーム（２００）をラック（３００）上の基準マーク（３１４）に揃えることによってロボットアーム（２００）をカリブレーションするために、ロボットアーム（２００）上に配置された視覚システム（２７０）と通信すること、を更に含む請求項２０〜２９のいずれかの方法。